低功耗+安全通信 华大电子CIU32L0系列MCU引领智能表计新潮流

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NI LabWindows™/CVI 2012加速测试测量应用程序的开发

• NI LabWindows/CVI 2012，是用于测试测量应用的ANSI C集成开发环境（IDE）的一个重要的升级更新，它增添了许多全新工具包并包含了许多经过改善-了的工具包，能够帮助工程师更加快速地开发他们的系统。 • LabWindows/CVI 2012非常适合一些受限行业行业的工程师，例如国防、航空航天和医疗，因为它能够保护应用程序免于不必要的更新从而造成版本的重复验证。 • 新特性，包括18个用户建议的功能，比如批量编译对话框，提高可用性，帮助软件开发者优化代码性能。

发表于：2012/10/25

艾法斯7100数字无线测试系统新增对4x2 MIMO的支持

艾法斯控股公司（Aeroflex Holding Corp.，纽交所代码：ARX）旗下的全资子公司艾法斯有限公司（Aeroflex Limited）日前宣布：为其7100数字无线测试系统增加了对4x2多输入多输出（MIMO）的支持，用于带有这项功能设计的LTE用户设备（UE）的研发测试。

发表于：2012/10/24

Teledyne LeCroy欲借12位ADC高精度示波器抢占中低端市场

2012年5月28日，世界三大数字​示波器厂商之一的LeCroy（力科）被Teledyne以比当时LeCroy在NASDAQ的股价高大约50%的价格现金收购。迄今为止，示波器的三巨头已有两家被收购。LeCroy接下来的发展战略将如何？它是以原有的品牌运营，还是作为Teledyne的一个部门运营？这次收购是否会打破示波器的市场格局？这些问题一直困惑着笔者。10月9，LeCroy在被收购后第一次以Teledyne LeCroy的身份与京城媒体见面，发布其于10月22日上市的HDO系列高分辨率示波器，同时解开了笔者心头的疑惑。

发表于：2012/10/23

构建新型仪器：软件定义的仪器

许多年来，仪器的基本模式没有太大的改变。需要进行测试工作的工程师和科学家必须先从测试测量供应商处购买功能固定的硬件，然后在标准台式计算机上使用诸如LabVIEW之类的软件，通过信号处理，决策，自动化等方式扩展硬件的功能。而模块化仪器的出现是一个巨大的飞跃，并成为了自动化测试系统的既定标准。但是模块化仪器中的许多功能已由厂家在嵌入式固件中定义完毕，用户无法对固件进行更改以满足特定的应用需求。

发表于：2012/10/23

了解LabVIEW FPGA和软件设计射频仪器的优势所在

阅读此文可以帮助您了解如何使用NI LabVIEW FPGA来设计和自定义您的射频仪器，以及通过软件设计的仪器能为您的测试系统所带来的好处。

发表于：2012/10/23

Teledyne LeCroy发布HDO系列高分辨率示波器

高达1 GHz带宽, 250 Mpts存储深度, 2.5 GS/s采样率, 和12.1” 触摸显示屏

发表于：2012/10/23

分销商如何服务客户？听听客户如何说--- 采访科通重点客户北京博电新力电气股份有限公司

目前，智能电网、新能源、物联网等新兴产业商机乍现，对于技术型分销商来说，关键问题是如何帮助客户迅速推出面市的产品，抓住市场商机，在服务客户方面，很多分销商提出“帮助客户实现增值”的口号，但是在实际运作中，分销商如何服务客户？如何帮助客户增值？近日，北京博电新力电气股份有限公司(PONOVO POWER CO., LTD简称北京博电)宣布以创纪录的速度成功向市场交付了其最新系列高端智能电网测试设备PNF800系列测试仪，把国内的测试仪设备一举从光数字测试时代引入了智能测试时代，北京博电是如何在分销商科通集团的支持下快速推出领先的智能电网测试设备？北京博电继电保护测试部数字电路研发主管周文闻博士分享了自己的一些体会。

发表于：2012/10/23

Teledyne LeCroy欲借12位ADC高精度示波器抢占中低端市场

2012年5月28日，世界三大数字示波器厂商之一的LeCroy（力科）被Teledyne以比当时LeCroy在NASDAQ的股价高大约50%的价格现金收购。 迄今为止，示波器的三巨头已有两家被收购。LeCroy接下来的发展战略将如何？它是以原有的品牌运营，还是作为Teledyne的一个部门运营？这次收购是否会打破示波器的市场格局？这些问题一直困惑着笔者。 10月9，LeCroy在被收购后第一次以Teledyne LeCroy的身份与京城媒体见面，发布其于10月22日上市的HDO系列高分辨率示波器，同时解开了笔者心头的疑惑。

发表于：2012/10/23

吉时利将晶体管图示仪的量程和简化性与参数分析仪精度和灵活性完美结合

2012年10月22日讯--吉时利仪器公司，作为先进电气测试仪器与系统的世界级领导者，为大功率器件的参数曲线分析应用推出了7种解决方案，适用于高达3,000V和100A的大功率器件特性分析。这些配置可以提供业界最高性价比的解决方案，用于高功率半导体器件特性分析，包括基于碳化硅(SiC)和氮化镓(GaN)技术的应用。这些系统可以提供绝大多数高功率器件设计与开发应用所需的功率，可以满足研究、可靠性、故障分析以及功率器件应用工程师、功率器件设计人员、检验技术人员以及其他人员的特性分析与测试需求。

发表于：2012/10/22

突破精度限制——了解运算放大器的精度挑战

在精密测量过程中，系统工程师们面临的第一个挑战便是如何选择具备最佳性能的运算放大器以及安装在其周围的其他组件。这项工作很重要。在一些有空间限制的应用中，工程师们常常会寻求体积最小的封装，但是这种小型封装具有一定的优势却无法提供理想的精度。本文讨论IC 制造商用于克服精度挑战的一些技术，并让读者更好地理解封装前和封装后用于获得最佳性能的各种方法，甚至是使用最小体积的封装。

发表于：2012/10/22