头条 我国在交通安全光学计量领域取得系列突破 据市场监管总局官网消息,近日,我国在面向交通安全的光学参数计量技术领域取得系列关键突破。依托陕西省计量科学研究院建立的国家市场监督管理总局重点实验室(计量光学及应用),立足“交通强国”与“平安中国”战略布局,针对能见度、逆反射与眩光等参数长期存在的“测不了、测不全、测不精”等计量瓶颈,开展系统攻关,突破量值溯源体系中的核心技术障碍,成功研制出系列关键光学参数校准装置,初步构建起面向交通安全的光学测量与计量技术体系,更好守护交通安全的“视觉生命线”。 最新资讯 美国国家仪器将领先的PXI RF测试性能扩展至14 GHz 美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)发布了NI PXIe-5665高性能RF矢量信号分析器(VSA)的14 GHz版本。该新型VSA拥有高性价比的PXI组成结构,达到同类仪器的最佳动态范围和精度,并具备业界领先的相位噪声和动态范围除了它的组成结构之外,它还拥有传统堆叠式箱式仪器的性能。此款VSA由于基于PXI平台,使其测试速度比箱式仪器快20倍,并且花费更少。此外,其多核计算机架构和NI LabVIEW的并行程序设计能力使性能更为优越。该型VSA也具有对等(peer-to-peer)数据流功能,用于信号处理和灵活的多路输入、多路输出(MIMO)架构,以及相位相干测量。这些特点使得这款VSA适用于高要求RF测试应用,包括:无线电探测与测距(RADAR),卫星,无线电及谐波测试。 发表于:2011/9/9 NI 单槽式机箱进一步扩展 NI CompactDAQ 平台 美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)发布了新型的单槽式 NI CompactDAQ 机箱,可支持 USB、无线网络、以太网数据总线,为工程师和科学家提供性能优越的便携式数据记录器与灵活的模块化测量。NI cDAQ-9191、cDAQ-9181、cDAQ-9171 机箱支持所有的 NI CompactDAQ 平台NI C 系列模块,可搭配现有的 4 槽和 8 槽机箱。由于该模块几乎兼容所有的传感器, NI CompactDAQ 平台省去了传统传感器测量系统固有的功能,为工程师和科学家提高效率的同时降低了整体成本。 发表于:2011/9/8 NIWeek 2011展示美国国家仪器如何加快工程效率 第17届NIWeek图形化系统设计盛会暨展览会上,美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)的工程师们就NI产品如何加快工程创新与与会者展开讨论。会议展示了NI客户如何通过使用图形化系统设计平台从而显著提升工作效率。图形化系统设计提供了一个可自定义的硬件和软件平台,加速各种需要测量和控制系统的开发。 会议上NI工程师还推出了许多新的NI技术,帮助创新者大大提高效率。 发表于:2011/9/8 DSP在随钻井下管柱参数测量系统中的应用 为了了解钻井管柱在井下的真实状况,本文设计了一种用于井下高温、高压环境的随钻井下管柱参数测量系统;解决了井下工作环境恶劣、对元器件要求高、节能等技术难题,并详细介绍了系统组成、主要技术指标、软硬件设计以及TMS320LF2407A数字信号处理器的特点。 发表于:2011/9/8 LED颜色及亮度测试方案 FeasaLEDAnalyser是一个测量系统,能够实现快速和自动测试LED的颜色和亮度。该装置是专为LED和液晶显示器等设计的自动测试装置。 发表于:2011/9/8 再获日月光半导体多台订单,惠瑞捷V93000 SOC 测试平台装机数量达到2,500 台 Advantest 集团(东京证券交易所:6857;纽约证券交易所:ATE)旗下公司惠瑞捷 (Verigy)的 V93000 片上系统 (SOC) 测试平台安装数量已达 2,500 台,具有重大里程碑意义。此次具有里程碑意义的装机为日月光半导体制造股份有限公司(简称 ASE,台湾证券交易所:2311,纽约证券交易所:ASX)多系统订单的一部分。日月光为世界最大的 IC 封装和测试服务的独立供应商。 发表于:2011/9/8 基于汽车CAN总线的老化测试系统的设计 汽车上用的电子设备的可靠工作与优良性能关系者驾驶者的生命安全。车用电子设备出厂前要求对设备内部电路板进行长时间老化测试,以检测电路板在高温环境和各种输入信号条件下,是否仍正常工作。只有经过老化测试的电路板才能出厂。由于需要老化测试的电路板数量巨大,要求该系统能同时老化测试许多块被检测电路板,因此设计了本老化测试系统。 发表于:2011/9/8 Nordson DAGE推出4000Plus多功能推拉力测试机 NordsonCorporation的子公司NordsonDAGE计划在越南NEPCON展会新加坡展馆F05展位隆重推出其4000Plus多功能推拉力测试机,展会预定于2011年10月6-8日在胡志明市西贡展览与会议中心举行。 发表于:2011/9/8 基于89C55中规模集成电路功能测试仪的设计 集成电路的测试技术随着集成电路开发应用的飞速发展而发展。集成电路测试仪也从最初测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模和超大规模集成电路。集成电路测试仪按测试门类可分为:数字集成电路测试仪、存储器测试仪、模拟与混合信号电路测试仪、在线测试系统和验证系统等。目前市场上的测试仪产品功能较单一,价格非常昂贵,给电路的测试、维护带来不便。因此,研究开发简单快捷、具有一定智能化的集成电路测试仪有很高的实用价值[ 发表于:2011/9/8 基于3G技术的浮动车交通信息采集系统研究 本文从分析浮动车信息采集系统功能人手,提出了基于3G数字移动通信技术的浮动车信息采集的一种新的解决方案。 发表于:2011/9/7 <…415416417418419420421422423424…>