头条 我国在交通安全光学计量领域取得系列突破 据市场监管总局官网消息,近日,我国在面向交通安全的光学参数计量技术领域取得系列关键突破。依托陕西省计量科学研究院建立的国家市场监督管理总局重点实验室(计量光学及应用),立足“交通强国”与“平安中国”战略布局,针对能见度、逆反射与眩光等参数长期存在的“测不了、测不全、测不精”等计量瓶颈,开展系统攻关,突破量值溯源体系中的核心技术障碍,成功研制出系列关键光学参数校准装置,初步构建起面向交通安全的光学测量与计量技术体系,更好守护交通安全的“视觉生命线”。 最新资讯 安捷伦科技电子测量仪器第二家体验店正式于中国上海成立 为了给中国客户提供更佳的服务,满足客户的采购需求,安捷伦科技有限公司与安捷伦授权的工业电子测量仪器分销商——上海咏绎仪器仪表有限公司共同合作于2011年04月18日设立了安捷伦科技电子测量仪器体验店并进行了开业剪彩仪式。 发表于:2011/5/11 LM741构成的电容测量电路设计 由LM741等构成的电容测量电路如下图所示,该电路的测量原理是被测电容Cx充、放电而形成三角波,测量三角波的振荡周期就可知电容量的大小。由A1可构成密勒积分电路,经A2构成的施密特电路形成正反馈而产生振荡。 发表于:2011/5/11 光电跟踪检测调试仪的研制 首先介绍了光电跟踪仪锁定机构检测调试仪研制的必要性和紧迫性,接下来介绍了方位锁定机构的特点及主要功能是完成对设备方位锁定机构状态的检测,能够在单板上实现对方位锁定机构加锁、解锁的控制,并能够判断锁定机构状态,实现脱离整机单独调试、排故,并以此制定出检测调试仪的设计方案。对硬件和软件设计部分作出详尽介绍,最后对光电跟踪仪锁定机构检测调试仪的优点作以总结:结构简单、操作简单,为工作提供极大便利。 发表于:2011/5/11 赢在USB3.0爆发前夜 别让接收机测试拖后腿 最高速度扩大到5Gbps的USB3.0自完成标准制定以来,对应产品不断出现,但主要集中在闪存盘和移动硬盘等存储类Device产品。笔者从“泰克2011年春季创新论坛”上获悉,已发布两年的USB3.0在中国受到开发者热捧,并且泰克的高速串行专家及合作伙伴表示,随着不久之后Intel和AMD将其集成到主板(芯片组)中,USB3.0市场的爆发期在2012年也随之到来,因为主板集成USB3.0后必将极大推动Host产品的大量涌现,这样才能真正引爆USB3.0市场。 发表于:2011/5/11 汽车传感器的应用现状及其发展趋势 汽车传感器作为汽车电子控制系统的信息源,是汽车电子控制系统的关键部件,也是汽车电子技术领域研究的核心内容之一。目前,一辆普通家用轿车上大约安装几十到近百只传感器,而豪华轿车上的传感器数量可多达二百余只。据报道,2000年汽车传感器的市场为61.7亿美元(9.04亿件产品),到2005年将达到84.5亿美元(12.68亿件),增长率为6.5%(按美元计)和7.0%(按产品件数计)。 发表于:2011/5/11 针对纳米器件的脉冲I-V测试小技巧 在对纳米器件进行电流-电压(I-V)脉冲特征分析时通常需要测量非常小的电压或电流,因为其中需要分别加载很小的电流或电压去控制功耗或者减少焦耳热效应。这里,低电平测量技术不仅对于器件的I-V特征分析而且对于高电导率材料的电阻测量都非常重要。利于研究人员和电子行业测试工程师而言,这一功耗限制对当前的器件与材料以及今后器件的特征分析提出了巨大的挑战。 发表于:2011/5/11 PXI - 主流自动化测试平台 PXI(PCIeXtensionsforInstrumentation)不仅是一个总线技术,同时也是一个基于PC技术的模块化I/O的标准,为基于PC技术的自动化测试测量与控制系统架构添加了集成的定时和同步功能、工业级的坚固设计,以及更多的通道数。自1997年由NI公司提出以来,现在PXI已经成为一个受到全球超过70家厂商共同支持的标准。 发表于:2011/5/10 FPGA器件的在线配置方法 多任务电路结构重配置即将多个配置文件分区存储到外部存储器中,然后由单片机接收不同的命令,以选择读取不同存储器区的数据下载到FPGA器件,实现在线配置成多种不同的工作模式。 发表于:2011/5/10 ZMDI ZSSC3170汽车传感器信号调理方案 ZMDI公司的ZSSC3170是集成了LIN和PWM接口的汽车传感器信号调理器,最大模拟增益420,并具有扩展的失调补偿.器件和LIN指标1.3/2.0/2.1兼容,数据转换速率高达430Hz,电源电压7-18V,ADC分辨率13-14位,输出分辨率达12位,睡眠模式的电流消耗小于100uA.本文介绍了ZSSC3170主要特性,方框图和多种应用电路. 发表于:2011/5/10 咱的纳米器件有几 安(A)、伏(V)? 解决问题:脉冲I-V测试——纳米测试小技巧在对纳米器件进行电流-电压(I-V)脉冲特征分析时通常需要测量非常小的电压或电流,因为其中需要分别加载很小的电流或电压去控制功耗或者减少焦耳热效应。 发表于:2011/5/10 <…474475476477478479480481482483…>