头条 低功耗+安全通信 华大电子CIU32L0系列MCU引领智能表计新潮流 5月12日，由华大电子主办的“智能表计安全MCU研讨会”在山东泰安圆满落下帷幕。本次研讨会汇聚了行业专家、头部表计企业、系统集成商等众多行业伙伴，围绕政策合规、技术创新、场景落地三大维度深度交流，共商行业发展新机遇。 最新资讯 LabVIEW2010的分析及报表特性 介绍并分析了LabVIEW2010及其报表特性，利用LabVIEW2010的报表生成函数可以对分析结果进行总结和整理，从而能更好地呈现出来。 发表于：2010/9/28 矢量网络分析仪测试系统的设计及维护 介绍了两种网络分析仪，标量网络分析仪和矢量网络分析仪。标量网络分析仪组成的测试系统三年前投入使用，矢量网络分析仪组成的测试系统去年投入使用。 发表于：2010/9/28 通信网中的时间同步问题分析 通信网中的时间同步问题分析,1、问题的描述和分析目前通信网中的各种设备之间的时间误差非常大。通信网的计费，运营管理，事件记录和故 发表于：2010/9/28 CompactRIO实现清洗机流水线的自动化 开发一个可靠的工业清洗机流水线自动控制系统，可轻松的实现监督以及实时的报警监测 ... 发表于：2010/9/27 DSP与LabWindows／CVI的电力故障监测录波器设计 针对现有电网实时监测录波系统的缺陷，设计出一种结合DSP与Labwindows／CVI软件的故障录波器。分析了FFT精确快速分析谐波的能力及其在DSP上的实现方法。介绍了硬件结构原理，给出硬件设计框图和LabWindows／CV 发表于：2010/9/27 LabVIEW应用于实时图像采集及处理系统 在LabVIEW和NI-IMAQ Vision软件平台下，利用通用图像采集卡开发一种图像实时采集处理虚拟仪器系统。通过调用动态链接库驱动通用图像采集卡完成图像采集，采集图像的帧速率达到25帧每秒。利用NI-IMAQ 发表于：2010/9/27 基于Lab Windows/CVI的激光声遥感系统 Windows操作系统因其卓越的性能已成为各个领域广泛采用的操作系统平台，由于Windows对系统底层操作采取了屏蔽的策略，因而对用户而言，系统变得更为安全，但这却给众多的硬件或者系统软件开发人员带来了不小的困难，因为只要应用中涉及到底层的操作，如直接访问I/O端口和物理内存等，开发人员就不得不深入到Windows的内核去编写属于系统级的虚拟设备驱动程序。笔者开发的激光声遥感系统显控软件中涉及到物理内存的访问和信号波形的显示，如采用VC++等语言开发，一方面开发虚拟设备驱动程序工作难度较大，另外波形的显示及选取定位等工作实现起来也较繁杂，而如果在Lab Windows/CVI环境下完成这一工作，这一切将变得十分轻松，而且使系统的性能更加出色。 发表于：2010/9/27 基于ADSP21062雷达信号处理系统的调试 ADSP2106x SHARC是一个适用于语音、通信和图像处理的高速32位数字信号处理器。该芯片是基于ADSP21000系列DSP芯片发展起来的一个完整的单片系统，增加了一个双口片内SRAM，并集成了I/O设备。借助它的片内指令缓存，处理器可以在一个时钟周期内执行每一个指令。ADSP2106x SHARC体现了数字信号处理器的一个新的集成标准，它把一个高速运行的浮点DSP主处理器与集成的片内部件结合在一起，包括一个主机接口、DMA控制器、串口和连接口。由于它处理速度快、便于DSP多处理系统的连接和通信，目前已在更多的领域获得了开发和应用 1 。但如何对基于ADSP2106x的处理系统进行调试是人们在应用该芯片时必须解决的关键问题。本文提出了一种简单易行的测试方法，并在基于ADSP21062的雷达信号处理系统调试中获得了成功，验证了该方法的可行性。 发表于：2010/9/27 基于LabWindows的系留气球地面测控系统研制 针对上海世博会车载系留气球监测系统的应用要求，设计了基于LabWindows的地面测控系统，该系统具有多串口数据采集、数据库存储数据、用SQL语句访问数据库等特点，利用POS和GPS数据实现地面目标定位。 发表于：2010/9/27 吉时利ACS基础版V1.2为半导体测试应用提供全新可用性、便捷性和高产能体验 美国俄亥俄州克里夫兰，2010年9月26日讯——吉时利仪器公司（NYSE：KEI），作为全球先进电子测试仪器和系统的领先制造商，日前针对半导体测试与测量应用推出ACS基础版半导体参数测试软件的最新版本。ACS基础版V1.2进一步提高了元件或离散（封装的）半导体器件特征分析的可用性、便捷性和测试产能。它具有Trace模式，能够实时检查测量结果，采用交互的方式控制电压扫描，避免紧急情况下可能出现的器件击穿。除了完全支持吉时利各种数字源表（SMU）之外，ACS基础版将高速硬件控制、器件连接和数据管理功能集成在一套简洁易用的工具中， 并针对部件验证、调试和分析进行优化。要想了解更多信息请点击www.keithley.com.cn/products/semiconductor/characterizationsoftware/acsbasic/?mn=ACSBasicEdition。 发表于：2010/9/26 <…587588589590591592593594595596…>
