头条 低功耗+安全通信 华大电子CIU32L0系列MCU引领智能表计新潮流 5月12日，由华大电子主办的“智能表计安全MCU研讨会”在山东泰安圆满落下帷幕。本次研讨会汇聚了行业专家、头部表计企业、系统集成商等众多行业伙伴，围绕政策合规、技术创新、场景落地三大维度深度交流，共商行业发展新机遇。 最新资讯 自适应PID的薄壁筒体TIG焊接熔透控制研究 在薄壁筒体环缝焊接中，工艺参数以及坡口尺寸的波动都会导致焊接熔透状态的变化。为保证稳定的熔透，需要对焊接熔透状态进行实时检测和控制。针对薄壁筒体环缝TIG焊，建立了基于视觉传感的直接传感法,获取了清晰的熔池背面图像，经图像处理得到了满足熔透要求的熔池背面熔宽范围，并通过自整定PID控制器调节焊接速度，对熔透状态进行自适应控制。结果表明,该方法对熔透状态信号提取可靠，基本消除了熔透状态间接传感法的控制盲区。 发表于：2010/8/20 MEMS加速计高压灭菌器失效机理与设计改进 高压灭菌器测试之后在MEMS 加速计器件上观察到偏移变化。微机械传感器的失效有三个原因： 封装应力导致的偏移变化、电阻漏电和寄生电容变化。本文讨论了识别高压灭菌器失效根源所采用的FA方法。根据 FA 结果，建议了一个纠正措施，即提高产品鲁棒性，防止高压灭菌器失效的设计方法。 发表于：2010/8/20 利用时域反射计测量传输延时 随着时钟速率的提高，利用高速示波器的有源探头测量延时的传统方法很难获得准确结果。这些探头成为高速信号通路的一部分，并造成被测信号的失真，引入误差。探头还必须直接置于器件引脚，以消除PCB (印制电路板)引线长度产生的延时误差，满足探头位置的这一要求是困难而复杂的过程。介绍了如何利用TDR (时域反射计)测量降低探头误差的方法，有助于提高传输延时测量精度。 发表于：2010/8/19 基于CPCI总线的测井数据采集板卡的设计 介绍了一种基于CPCI总线的测井数据采集智能IO板卡的设计，包括数据采集、数据处理、板卡自诊断等功能。板卡结合具体应用环境设计滤波电路对敏感干扰信号进行有效的滤除，使用高性能A/D、FPGA和DSP做数据采集处理，高带宽CPCI总线进行传输数据，为测井数据采集设计提供了一套可行的硬件设计方案。 发表于：2010/8/19 安捷伦科技公布2010年第三季度财务报告 北京，2010年8月18日——安捷伦科技（NYSE:A）日前公布了截至2010年7月31日的第三季度财务报告。报告显示，2010财年第三季度公司收入为13.8亿美元,比去年同期增长31%，如不包括瓦里安收购和近期对网络服务业务剥离所带来的影响，这一数字则为24%。按美国通用会计准则计算，公司第三季度净收益为2.05亿美元，折合每股摊薄收益为0.58美元，而去年同期按美国通用会计准则计算的公司净亏损为1900万美元，折合每股摊薄亏损为0.06美元。 发表于：2010/8/19 NI成功举办第六届高校教师交流会 新闻发布——2010年8月——美国国家仪器有限公司（National Instruments, 简称NI）于7与20日在上海成功举办了第六届NI高校教师交流会(ProfessorDay 2010) 。会议围绕“创新”为主题，通过精彩的演讲、展示和交流活动，为来自全国90多所高校的200余名参会教师奉献了一场关于图形化系统设计助力工程教育创新的技术盛宴。 发表于：2010/8/19 安捷伦推出业界首个用于示波器的GDDR5 一致性测试工具 2010 年 8 月 19 日，北京――安捷伦科技公司（NYSE: A）宣布，推出业界首个用于示波器的 GDDR5（图形双倍数据速率第五版）一致性测试应用程序包和 GDDR5 球形栅格阵列（BGA）探头。新工具将帮助工程师更快地启动和调试 GDDR5 系统，高效地确定 GDDR5 器件和电路板设计能否与其他 GDDR5 器件进行互操作。 发表于：2010/8/19 基于匹配滤波技术的激光测高仪电子学系统的设计与实现 设计了一种基于主动遥感技术的激光测高仪的电子学系统。系统利用匹配滤波技术可自动获得不同目标物回波信号的最佳信噪比并保证了信号的保真度。还设计了一套基于延时线的方法测量距离作为测高系统测量距离的一个备份。实验结果表明，该电子学系统完全实现了测距精度和信号的保真度要求。 发表于：2010/8/18 基于GPRS无线通信技术的电力自动抄表系统 对于电力部门来说，抄表一直是一件非常头疼的事情，需要投入大量的人力、物力和财力。因为电表数量众多，地理位置分散，给工作人员带来 极大的不方便。采用GPRS网络远程数据通信方法解决了此问题，同时也解决了远程监测系统通信问题，比起其它有线通信方式有着不可比拟的优越性。由于采用的是无线模式，数据传输的安全性得到了很大的提高。随着GPRS网络的逐渐完整和应用技术的不断成熟，GPRS在其它工业领域的应用必将越来越广阔。 发表于：2010/8/17 自动化测试技术发展趋势展望 当今，各种创新型技术层出不穷，对测试测量行业产生巨大影响。NI通过与不同行业工程师深入交流，结合学术研究、商业咨询、用户调查等多种工具，提出2010年测试测量工程师需要关注的五大技术主题。 发表于：2010/8/11 <…596597598599600601602603604605…>
