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基于边界扫描技术的测试系统设计
所属分类：解决方案
上传者：aet
文档大小：143 K

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文档介绍：随着超大规模集成电路(VLSI)、表面安装器件(SMD)、多层印制电路板(MPCB)等技术的发展，电路板的常规测试方式面临挑战。介绍了边界扫描技术及边界扫描测试的基本原理，提出了一种基于边界扫描技术的测试系统方案及其实现，并着重介绍了JTAG总线控制器的设计。
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